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| 左藤裕紀, 亀井靖高, 上野秀剛, 川口真司, 名倉正剛, 門田暁人, 松本健一, 飯田元, "コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析," 電子情報通信学会技術研究報告. ソフトウェアサイエンス, 108(242), pp. 43-48, 2008年10月. | |
| ID | 2 |
| 分類 | 研究会・全国大会等 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
左藤 裕紀,亀井 靖高,上野 秀剛,川口 真司,名倉 正剛,門田 暁人,松本 健一,飯田 元 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
Hiroki SATO,Yasutaka KAMEI,Hidetake UWANO,Akito MONDEN,Shinji KAWAGUCHI,Masatake NAGURA,Ken-ichi MATSUMOTO,Hajimu IIDA |
| 定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会技術研究報告. ソフトウェアサイエンス |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
108 |
| 号数 (number) |
242 |
| ページ範囲 (pages) |
43-48 |
| 刊行月 (month) |
10 |
| 出版年 (year) |
2008 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
ソースコード中の重複コード列であるコードクローンによって，ソフトウェアの保守工数が増大するといわれている．一方で，コードクローンがソフトウェアの信頼性に与える影響については明確にはわかっていない．本稿では，コードクローンとソフトウェアの信頼性の関係を分析するために，コードクローンの長さに着目した．開発プロジェクトのリポジトリを分析し，ソースコードファイルに含まれるコードクローンの長さによってファイルを分類し，それぞれのファイル群のバグ密度を計測した．その結果，短いコードクローンを含んでいるファイル群のバグ密度は大きく，長いコードクローンを含んでいるファイル群のバグ密度は小さいことがわかった．さらに各ソースコードの長さにバグ密度が影響を受けると考え，ソースコード行数にしたがってファイルを分類し，それぞれのファイル群においてバグ密度がどのように変化するのかを調べた．その結果，ソースコード行数が比較的長い場合において前述の傾向がより強くなることがわかった． |
| 論文電子ファイル | 26.pdf (application/pdf) [一般閲覧可] |
| BiBTeXエントリ |
@article{id2,
title = {コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析},
author = {左藤 裕紀 and 亀井 靖高 and 上野 秀剛 and 川口 真司 and 名倉 正剛 and 門田 暁人 and 松本 健一 and 飯田 元},
journal = {電子情報通信学会技術研究報告. ソフトウェアサイエンス},
volume = {108},
number = {242},
pages = {43-48},
month = {10},
year = {2008},
}
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