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| 亀井靖高, 左藤裕紀, 門田暁人, 川口真司, 上野秀剛, 名倉正剛, 松本健一, "クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験," 電子情報通信学会論文誌D, 93-D(4), pp. 544-547, 2010年4月. | |
| ID | 40 |
| 分類 | 論文誌 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
亀井 靖高,左藤 裕紀,門田 暁人,川口 真司,上野 秀剛,名倉 正剛,松本 健一 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
Yasutaka Kamei,Hiroki Sato,Akito Monden,Shinji Kawaguchi,Hidetake Uwano,Masatake Nagura,Ken-ichi Matsumoto |
| 定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会論文誌D |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
93-D |
| 号数 (number) |
4 |
| ページ範囲 (pages) |
544-547 |
| 刊行月 (month) |
4 |
| 出版年 (year) |
2010 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id40,
title = {クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験},
author = {亀井 靖高 and 左藤 裕紀 and 門田 暁人 and 川口 真司 and 上野 秀剛 and 名倉 正剛 and 松本 健一},
journal = {電子情報通信学会論文誌D},
volume = {93-D},
number = {4},
pages = {544-547},
month = {4},
year = {2010},
}
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