pman.uwanolab.jp

@article{id40,
         title = {クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験},
        author = {亀井 靖高 and 左藤 裕紀 and 門田 暁人 and 川口 真司 and 上野 秀剛 and 名倉 正剛 and 松本 健一},
       journal = {電子情報通信学会論文誌D},
        volume = {93-D},
        number = {4},
         pages = {544-547},
         month = {4},
          year = {2010},
}

@inproceedings{id65,
         title = {An Empirical Study of Fault Prediction with Code Clone Metrics},
        author = {Yasutaka Kamei and Hiroki Sato and Akito Monden and Shinji Kawaguchi and Hidetake Uwano and Masataka Nagura and Kenichi Matsumoto and Naoyasu Ubayashi},
     booktitle = {6th International Conference on Software Process and Product Measurement (Mensura)},
         pages = {55-61},
         month = {11},
          year = {2011},
          note = {Nara, Japan},
}

@article{id2,
         title = {コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析},
        author = {左藤 裕紀 and 亀井 靖高 and 上野 秀剛 and 川口 真司 and 名倉 正剛 and 門田 暁人 and 松本 健一 and 飯田 元},
       journal = {電子情報通信学会技術研究報告. ソフトウェアサイエンス},
        volume = {108},
        number = {242},
         pages = {43-48},
         month = {10},
          year = {2008},
}

@inproceedings{id7,
         title = {ソースコードの圧縮性とコードクローンの関係の分析},
        author = {左藤 裕紀 and 亀井 靖高 and 上野 秀剛 and 川口 真司 and 門田 暁人 and 松本 健一},
     booktitle = {日本ソフトウェア科学会 第24回大会},
         month = {9},
          year = {2007},
}

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