論文誌
[1] 亀井靖高, 左藤裕紀, 門田暁人, 川口真司, 上野秀剛, 名倉正剛, 松本健一, "クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験," 電子情報通信学会論文誌D, volume 93-D, number 4, pages 544-547, 2010年4月.
研究会・全国大会等
[1] 左藤裕紀, 亀井靖高, 上野秀剛, 川口真司, 名倉正剛, 門田暁人, 松本健一, 飯田元, "コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析," 電子情報通信学会技術研究報告. ソフトウェアサイエンス, volume 108, number 242, pages 43-48, 2008年10月.