- 論文誌
- [1] 亀井靖高, 左藤裕紀, 門田暁人, 川口真司, 上野秀剛, 名倉正剛, 松本健一, "クローンメトリクスを用いたfault-prone モジュール判別の追実験," 電子情報通信学会論文誌D, volume 93-D, number 4, pages 544-547, 2010年4月.
- 国際会議
- [1] Yasutaka Kamei, Hiroki Sato, Akito Monden, Shinji Kawaguchi, Hidetake Uwano, Masataka Nagura, Kenichi Matsumoto, and Naoyasu Ubayashi, "An Empirical Study of Fault Prediction with Code Clone Metrics," In 6th International Conference on Software Process and Product Measurement (Mensura), pages 55-61, November 2011. [71.pdf]
- 研究会・全国大会等
- [1] 左藤裕紀, 亀井靖高, 上野秀剛, 川口真司, 名倉正剛, 門田暁人, 松本健一, 飯田元, "コードクローンの長さとソフトウェア信頼性の関係の分析," 電子情報通信学会技術研究報告. ソフトウェアサイエンス, volume 108, number 242, pages 43-48, 2008年10月. [26.pdf]
- [2] 左藤裕紀, 亀井靖高, 上野秀剛, 川口真司, 門田暁人, 松本健一, "ソースコードの圧縮性とコードクローンの関係の分析," 日本ソフトウェア科学会 第24回大会, 2007年9月. [9.pdf]
